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Microscopie à champ proche

Notre Plateforme est équipée de 3 systèmes à haute résolution : 1 STM (microscope à Effet Tunnel) et 2 AFM (microscopes à Force Atomique), Dimension ICON et Multimode 8, de chez Bruker Corporation.

 

 

 

Applications et caractéristiques :

 

• Imagerie 3D de surface haute résolution (résolution latérale de quelques nanomètres à quelques dizaines de microns, et jusqu’à 10 micromètres en z). Echantillons de petites et grandes tailles (quelques dizaines de mm2 à quelques centaines de cm2 pour une épaisseur de 12 cm au maximum).

• Mesures locales (forces, adhésion, conductivité électrique, piézoélectricité, dureté, spectroscopie tunnel …).

• Mesures à l’air, en atmosphère contrôlée et en solution aqueuse. Mesures en température possible (entre -5 °C et 100°C).

 

Hassan Saadaoui, responsable

Contact plateforme : plateforme@crpp-bordeaux.cnrs.fr - 05 56 84 30 30